XF-S8貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬行業推出的一款專用檢測萬足金的旗艦X射線熒光光譜儀，支持貴金屬成分檢測和液體濃度檢測，可廣泛應用于珠寶首飾工廠、實驗室、檢測站和回收等行業和單位。該產品采用美國AMPTEK高端Fast-SDD 70mm² 探測器，內置Intel i5十二核工控電腦，采用X射線與可見光共焦點光路設計和全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，適用范圍廣。

貴金屬檢測儀XF-S8優勢特點：

元素檢測范圍: 鋁(No.13)~ 鈾(No.92)

可支持*多 30 個元素同時計算

分析范圍: 0.0010%~99.9999%

檢測精度: ±0.001%(99999 金)

支持多點連續測試，測試效率高

三準直器，多濾光片自動切換

任意方向可見輻射警告燈

遵守 GB/T16921，ISO3497:2000，ASTM-B658，IEC62321 標準




貴金屬檢測儀XF-S8產品規格

產品包裝尺寸: 565mmx535mmx500mm

產品尺寸: 450mmx422mmx378mm

樣品艙尺寸: 366mmx336mmx141mm

額定功率:<150W

毛重: 61KG (包含顯示器、UPS 等)

凈重: 39KG

噪音: 50dB

使用環境:

溫度: 15°C~31°C

濕度: <70% (不結露)




貴金屬檢測儀XF-S8核心部件

探測器: AMPTEK高端定制Fast-SDD 探測器，面積: 70mm²，分辨率: 125±5eV。

內置工控電腦: Intel i5 十二核

高壓電源: 50KV/1mA 數字高壓電源

X射線管: 50KV/1mA

窗口材料：鈹窗

靶材:鎢

焦點: 0.1mm

準直器: φ0.5mm/φ1.0mm/ φ2.0mm




貴金屬檢測儀XF-S8測試示例