XRF-K5貴金屬檢測(cè)儀是西凡儀器針對(duì)貴金屬成分檢測(cè)的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于黃金回收、珠寶首飾工廠、展廳和銀行等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏及采用美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN探測(cè)器，內(nèi)置Intel i3十核CPU工控電腦，采用45度角光路以及全新的Smart FP算法。檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，性價(jià)比極高。

貴金屬檢測(cè)儀XRF-K5產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鉀K(No.19)～鈾U(No.92)          

可支持至多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

分析范圍：0.010%～99.999%

檢測(cè)精度：±0.03%(9999金)

檢測(cè)樣品：貴金屬合金/液體

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

軟件界面簡(jiǎn)潔明了，支持多種自定義報(bào)告

貴金屬檢測(cè)儀XRF-K5核心部件

探測(cè)器：美國(guó)AMPTEK定制版Si-PIN探測(cè)器

       探測(cè)器面積：6mm²

       分辨率：145±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel i3十核電腦

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

      窗口材料：鋁窗

       靶材：鎢

       焦點(diǎn)：? 0.5mm

準(zhǔn)直器：?2.0mm

貴金屬檢測(cè)儀XRF-K5規(guī)格

輸入電壓：AC100～240V，50Hz

產(chǎn)品包裝尺寸：566mmx531mmx560mm  

產(chǎn)品尺寸：420mmx350mmx300mm

樣品艙尺寸：297mmx294mmx80mm

額定功率：150W

毛重：51KG（包含UPS） 

凈重：32KG

噪音：<50dB

使用環(huán)境：

       溫度：15℃～31℃

       濕度：<70%（不結(jié)露）

貴金屬檢測(cè)儀XRF-K5軟件截圖