XRF-T6是西凡儀器結合RoHS檢測標準及客戶需求,推出的一款RoHS檢測儀,可廣泛應用于電子產品生產、玩具制造、五金制造、海關、質檢機構等領域,該產品采用美國進口定制Si-PIN探測器,可準確檢測鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴聯苯醚等有害重金屬物質,檢測速度快,測試穩定性···
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XRF-T6是西凡儀器結合RoHS檢測標準及客戶需求,推出的一款RoHS檢測儀,可廣泛應用于電子產品生產、玩具制造、五金制造、海關、質檢機構等領域,該產品搭載美國AMPTEK Si-PIN探測器,可準確檢測鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴聯苯醚等有害重金屬物質,檢測速度快,測試穩定性好、準確性高。
X熒光光譜儀(簡稱 XRF) 是一種物理的元素分析方法,具有快速、無損樣品、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢,在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。
XRF-T6 型X 熒光光譜儀,俗稱: RoHS 測試儀,專業用于元素的快速檢測,如:
1、歐盟 RoHS 指令限定有害元素檢測: Pb、 H、 Cd、六價 Cr、多聯苯、多聯苯醚
2、無鹵指令,鹵素檢測: 氯 CI、澳Br;
3、玩具、服裝、皮革等行業限定的 8 大重金屬檢測: Cb、 Pb、汞 H、 Cr、 Sb、 As、Ba、硒Se;
項目 | 性能指標 |
測試范圍 | 硫S(No.16)~鈾U(No.92) |
可測樣品的種類 | 鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴聯苯醚等有害重金屬物質 |
檢出限 | ≤2ppm |
探測器 | Si-PIN探測器 |