XF-S6是西凡儀器推出的旗艦款多功能X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈、電鍍產業鏈、寶石產業鏈等行業。該產品搭載美國AMPTEK定制Fast-SDD探測器、配備多準直器和多濾光片，內置Intel 12核CPU工控電腦，采用Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、RoHS有害物質、鍍層厚度、礦石成分和離子濃度等，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高。 

多功能XRF光譜儀XF-S6產品特點

l元素檢測范圍：鋁(No.13)～鈾(No.92)          

l可支持*多30個元素同時計算

l可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析

l可支持寶石人工/天然分析

l分析范圍：

u貴金屬：0.010%～99.999%

u鍍層：0.001um~80um

u液體：5微克/升~200克/升

l檢測精度：

u貴金屬：±0.01%(9999金)

u鍍層：RSD≤1.5%

u液體：RSD≤1.5%

l檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體/礦石粉末/RoHS

l支持多點連續測試，測試效率高

l選裝10工位轉盤，自動連續測試10個樣品




多功能XRF光譜儀XF-S6核心配件

l探測器：美國AMPTEK定制版Fast-SDD探測器

n探測器面積：25mm2

n分辨率：125±5eV

l內置工控電腦：Intel i5十二核電腦

l高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

lX射線管：50KV/1mA

n窗口材料：鈹窗

n靶材：鎢

n焦點：? 0.1mm

l準直器：?0.5mm+?1.5mm

多功能XRF光譜儀XF-S6軟件測試截圖