XF-A5S是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈、電鍍產業鏈、寶石產業鏈等行業。該產品搭載美國AMPTEK定制版Si-PIN探測器，內置Intel十核CPU工控電腦，采用Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比高。

多功能XRF光譜儀XF-A5S 產品特點

l元素檢測范圍：鉀(No.19)～鈾(No.92)          

l可支持*多30個元素同時計算

l可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析

l可支持寶石人工/天然分析

l分析范圍：

u貴金屬：0.010%～99.999%  

u鍍層：0.002um~80um

u液體：10ug/L~200g/L

l檢測精度：

u貴金屬：±0.03%(9999金)

u鍍層：RSD≤2.5%

u液體：RSD≤2.5%

l檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體

l支持多點連續測試，測試效率高







多功能XRF光譜儀XF-A5S核心部件

l探測器：美國AMPTEK定制版Si-PIN探測器

n探測器面積：6mm²

n分辨率：145±5eV

l內置工控電腦：Intel i3十核電腦

l高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

lX射線管：50KV/1mA

n窗口材料：鋁窗

n靶材：鎢

n焦點：? 0.5mm

l準直器：

nXF-A5S：Φ2.0毫米

多功能XRF光譜儀XF-A5S軟件截圖